五、?OMQ100W-088系列技術規格
型號 |
OMQ100W-088M |
OMQ100W-088C |
平臺旋轉 |
手動 |
自動 |
量程(mm) |
83×63 |
|
外部尺寸(mm) |
700x200x350 |
|
重量(kg) |
30 |
|
承重(kg) |
3 |
|
圖像傳感器 |
1200萬像素工業相機 |
|
鏡頭 |
雙遠心光學鏡頭 |
|
倍率 |
0.088X |
|
測量精度(μm) |
±(3.0+L/50) *以標準塊為被測產品 |
|
最小顯示單位(mm) |
0.0001 |
|
景深(mm) |
8 |
|
Z軸工作距離(mm) |
120mm |
|
光源 |
1000級程控光源。 輪廓光:遠心平行光源 。 (可選,表面光:環形光源、外接同軸光) |
|
圖像處理 |
IVT先進圖像分析方法,256灰度等級,20:1亞像素處理技術 |
|
軟件 |
IVT-VISION-OneKey |
|
工作環境 |
溫度:22℃±2℃ 濕度:30~80% |
|
振動:<0.002mm/s,<15Hz |
||
電源 |
220V/50Hz |
六、?OMQ100W-016系列技術規格
型號 |
OMQ100W-016M |
OMQ100W-016C |
平臺旋轉 |
手動 |
自動 |
量程(mm) |
82×55 |
|
外部尺寸(mm) |
700x200x350 |
|
重量(kg) |
30 |
|
承重(kg) |
3 |
|
圖像傳感器 |
2000萬像素工業相機 |
|
鏡頭 |
雙遠心光學鏡頭 |
|
倍率 |
0.16X |
|
測量精度(μm) |
±(2.5+L/50) *以標準塊為被測產品 |
|
最小顯示單位(mm) |
0.0001 |
|
景深(mm) |
8 |
|
Z軸工作距離(mm) |
145mm |
|
光源 |
1000級程控光源。 輪廓光:遠心平行光源 。 (可選,表面光:環形光源、外接同軸光) |
|
圖像處理 |
IVT先進圖像分析方法,256灰度等級,20:1亞像素處理技術 |
|
軟件 |
IVT-VISION-OneKey |
|
工作環境 |
溫度:22℃±2℃ 濕度:30~80% |
|
振動:<0.002mm/s,<15Hz |
||
電源 |
220V/50Hz |
七、?OMQ100W-03系列技術規格
型號 |
OMQ100W-03M |
OMQ100W-03C |
平臺旋轉 |
手動 |
自動 |
量程(mm) |
40×30 |
|
外部尺寸(mm) |
700x200x350 |
|
重量(kg) |
30 |
|
承重(kg) |
3 |
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圖像傳感器 |
2000萬像素工業相機 |
|
鏡頭 |
雙遠心光學鏡頭 |
|
倍率 |
0.3X |
|
測量精度(μm) |
±(2.0+L/50) *以標準塊為被測產品 |
|
最小顯示單位(mm) |
0.0001 |
|
景深(mm) |
3 |
|
Z軸工作距離(mm) |
135mm |
|
光源 |
1000級程控光源。 輪廓光:遠心平行光源 。 (可選,表面光:環形光源、外接同軸光) |
|
圖像處理 |
IVT先進圖像分析方法,256灰度等級,20:1亞像素處理技術 |
|
軟件 |
IVT-VISION-OneKey |
|
工作環境 |
溫度:22℃±2℃ 濕度:30~80% |
|
振動:<0.002mm/s,<15Hz |
||
電源 |
220V/50Hz |
成本 | 其他測量儀器 | 一鍵式測量儀 |
節省培訓成本 | 學會測量儀的操作需要花費相當長的時間; | 僅需一鍵,任何人都可以測量,操作簡單 |
擔心熟練測試人員流失,造成“脫節”現象 | ||
降低使用成本 | 局限于專業熟練的測試人員,薪資要求高(5000元/月) | 任何人都可操作,普工即可滿足要求(2500元/月) |
測試效率成本 | 測量需要移動工作臺來拾取特征尺寸,所需時間隨關鍵特征尺寸數量的增加而增加,一個生產車間需要配備5~10臺機器,每臺至少配備1~2個熟練的操作人員;累積每年操作工時2000小時 | 無需移動工作臺、固定試樣、重復對焦、瞬間測量視野范圍內所有尺寸,一臺閃測儀、一個普工即可;累積每年操作工時100小時 |
人為誤差元素 | 其他測量儀器 | 一鍵式測量儀 |
測量方式 | 測試人員不熟悉軟件和機器,造成測量方式誤差 | 自動記憶和儲存測量方式、取點位置,自動擺正測試方向,且自動執行,有效消除人為誤差 |
測試人員心態變化,易造成測量精度和穩定性偏差 | 自動、機械化測量消除人為誤差 | |
工作距離和景深短,需要重復自動對焦,存在誤判和機械誤差可能性 |
高景深雙側遠心鏡頭,允許試樣存在 一定的高度差,無需重復聚焦 |
|
不同測試人員因操作習慣、聚焦清晰度、取點方式、照明光線強度等方面差異,造成測量數據有偏差 ? |
記憶并自動執行相同的測量模式、取點方式、光學照明強度等 | |
試樣擺放 | 擺放位置與方向不一樣 | 無需任何夾具、產品可任意擺放 |
夾具移位、取點位置移動導致坐標原點有偏差 | 軟件自動調整試樣位置和方向進行精準測量 | |
取點位置、測試圖元順序錯亂 |
自動、機械化測量 ? |